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涂層測厚儀 型號:KM1-LS225
LS225涂鍍層測厚儀由LS225主機和探頭組成，目前主機可支持F500鐵基探頭和N1500、N2000非鐵基探頭。F500和N1500采用小探頭設計，適合于釘子、螺栓等小工件的薄鍍層或各種鋁材表面、陽極氧化層測量。N2000采用自重觸發測量設計，適合測量平面板材的涂層厚度。
涂層測厚儀 型號:KM1-LS225
探頭型號
F500鐵基探頭
測量原理：磁感應
基體材料：鐵磁性金屬
測量范圍：0.0~500μm
測量間隔：
1.5s(單次模式)
0.4s(連續模式)
分辨率：
0.1μm:（0μm ～ 99.9μm）
1μm:（100μm ～500μm）
重復性：≤±（0.8%H+0.1μm）手壓測試機架測試，H為標準值
誤差：±（2%H+0.3μm）五點校準，H為標準值
單位：μm / mil
小曲率半徑：凸面1.5mm，凹面10mm
小基體厚度：0.1mm
